products category
儀表，電子設(shè)備
電子設(shè)備
hozan
nisshooptical
anest-iwata
ORC
smc
shishido-esd
haradacorp
simcoion
tamagawa-seiki
krohne
lapole
dyna-t
aitecsystem
leimac
opter
optical-relation
oklab
asahi-spectra
san-eielectric
photonic-lattice
eishinkagaku
bl-autotec
yamashitadenso
quark-tec
asey
ccs-inc
hikarishop
s-vans
nidec
h-repic
nissin-ele
dentsu-sangyo
funatech
techno-ele
swallow
nextcorp
m-system
技術(shù)文章/ article
雜散光大幅減少有助于將精確校準(zhǔn)轉(zhuǎn)化為精確測量
傳統(tǒng)CCD探測器的光譜響應(yīng)度通常在200納米至430納米范圍內(nèi)。通常，CCD探測器的寬光譜響應(yīng)范圍被稱為光譜輻射計的響應(yīng)范圍。然而，這
沒有考慮色散光柵的光譜響應(yīng)函數(shù)，這進(jìn)一步降低了檢測器在UV光譜中的響應(yīng)度。這主要通過長波雜散光導(dǎo)致UV測量信號中的顯著誤差。寬帶
光譜儀的光譜分辨率通常不足以保證對例如窄帶UV LEDs的精確測量。
專門為紫外輻射設(shè)計的CCD光譜輻射計具有有限的光譜范圍，并且允許與非常高的光譜分辨率相關(guān)的非常高的光柵效率。此外，濾光器也可用于
顯著減少雜散光。
返回列表
掃描二維碼
點擊隱藏
更新時間：2023-10-18 
瀏覽次數(shù)：455
掃一掃
您的位置：
在線咨詢
返回頂部